一种钨单晶涂层{110}晶面识别和表面份额的统计方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种钨单晶涂层{110}晶面识别和表面份额的统计方法

基本信息

申请号	CN201610162764.X	申请日	-
公开（公告）号	CN105842038B	公开（公告）日	2019-03-26
申请公布号	CN105842038B	申请公布日	2019-03-26
分类号	G01N1/32（2006.01）I; C30B33/10（2006.01）I; C23F1/38（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	张鹏杰; 郭雨竹; 周倩; 史佳庆; 么斯雨; 张松; 沈艳波; 于晓东; 谭成文	申请（专利权）人	海朴精密材料（苏州）有限责任公司
代理机构	-	代理人	-
地址	100081 北京市海淀区中关村南大街5号北京理工大学
法律状态	-

摘要

本发明涉及一种钨单晶涂层{110}晶面识别和表面份额的统计方法，属于热离子型燃料电池技术领域，特别是能够指导电化学蚀刻工艺参数的优化。本发明包括用化学腐蚀识别钨单晶{110}晶面、统计{110}晶面所占份额和用电化学法提高其所占份额三个步骤。其中，化学腐蚀方法识别晶面时所用的化学腐蚀剂由NaOH、K3Fe(CN)6和去离子水配制而成，每100ml腐蚀液中含9～12g的NaOH和8～11g的K3Fe(CN)6。根据蚀坑形貌特征识别出{110}晶面，然后通过自动变焦成像技术每2°～6°拍摄一张金相照片，统计出{110}在整个圆周上所占总度数而得到其表面份额，本发明具有操作简单方便、蚀坑清晰、辨识度高、统计方法简单易行等优点。