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自动对焦液晶模组围观三维立体检测光学方法

基本信息

申请号 CN202011488969.X 申请日 -
公开（公告）号 CN112730449A 公开（公告）日 2021-04-30
申请公布号 CN112730449A 申请公布日 2021-04-30
分类号 G01N21/95;G02F1/13 分类 测量；测试;
发明人 李腾腾;苗伟 申请（专利权）人 上海辛玮智能科技有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 200092 上海市杨浦区铁岭路38号1层
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种自动对焦液晶模组围观三维立体检测光学方法，包括以下步骤：根据成像模块采集图像信息；根据采集到的图像信息进行三维成像，并形成三维图像信息；对三维图像信息进行图像的明暗度匹配；对匹配后的三维图像信息与预存信息进行对比，并获得对比结果；根据对比结果判断三维图像信息的缺陷位置，并将缺陷位置记录并反馈至终端。通过利用成像模块自动对焦实现了多层次拍照一部分清晰一部分模糊不清技术难题，保证采集到的整幅图像各部分均是清晰的；实现了采集到的平面图像中的图像内容是立体呈现的，还原了图像内容的真实形态。实现了从多角度，多场景对图像内容进行分析。从而解决特定缺陷不可检测和误检率高的问题。