激光测距的方法、装置、激光测距设备及可读存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202111446343.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114114296A | 公开（公告）日 | 2022-03-01 |
| 申请公布号 | CN114114296A | 申请公布日 | 2022-03-01 |
| 分类号 | G01S17/08（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 冯波;余峰;胡攀攀;谢理 | 申请（专利权）人 | 武汉万集光电技术有限公司 |
| 代理机构 | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 梁立耀 |
| 地址 | 430000湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道77号金融后台服务中心基地建设项目二期B5栋6层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请提供了激光测距的方法、装置、激光测距设备及可读存储介质，所述方法包括：向目标物体发射激光信号后，接收目标物体的回波信号，得到原始回波信号；将原始回波信号转换成原始数字回波信号；将预先存储的滤光元件数字回波信号和原始数字回波信号进行反向叠加，得到目标数字回波信号；根据目标数字回波信号，计算与目标物体之间的距离；将滤波后的原始数字回波信号中的滤光元件数字回波信号抵消掉，从而有效处理目标物体的回波信号中的滤光元件回波信号，得到准确的目标物体的回波信号，降低了测距误差，进而有效消除测距盲区。 |
