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一种LED芯片自动化测试系统

基本信息

申请号	CN201921898239.X	申请日	-
公开（公告）号	CN211520738U	公开（公告）日	2020-09-18
申请公布号	CN211520738U	申请公布日	2020-09-18
分类号	B65G35/00(2006.01)I	分类	-
发明人	王晓明;崔思远;文国昇;钟胜时;武良文	申请（专利权）人	江西兆驰半导体有限公司
代理机构	-	代理人	-
地址	330000江西省南昌市南昌高新技术产业开发区高新二路18号创业大厦503、515室
法律状态	-

摘要

本实用新型公开了一种LED芯片自动化测试系统，中控料塔、RFID读取器、点测机、轨道、有轨运载小车、中控显示屏、料塔、中控电脑、电控箱、控制芯片；其中：中控料塔后端连接有轨道，有轨运载小车安装在轨道上，若干数量的点测机紧靠轨道两侧放置，所述中控料塔由RFID读取器、中控显示屏、料塔、中控电脑、电控箱组成。本实用新型的优点在于：采用智能型上下料系统，通过中控料塔及有轨小车统一发放物料，解决了在产线中集中发放和回收产品的难题；同时具备针痕实时监控、晶圆图实时监控、良率统计、稼动率统计、探针寿命统计、产品追溯、远程控制等功能，可以有效地保证在长时间的测试过程中无需人工干预，可有效的节省人工成本，提高生产效率。