一种发光二极管量子效率测量装置及其测量方法
基本信息
| 申请号 | CN201710383842.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN107228710A | 公开（公告）日 | 2017-10-03 |
| 申请公布号 | CN107228710A | 申请公布日 | 2017-10-03 |
| 分类号 | G01J3/28(2006.01)I;G01J5/22(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈忠;张汝京;林思棋;施天谟;吕毅军;林岳 | 申请（专利权）人 | 昇瑞光电科技（上海）有限公司 |
| 代理机构 | 厦门南强之路专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 厦门大学;昇瑞光电科技（上海）有限公司 |
| 地址 | 361005 福建省厦门市思明南路422号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种发光二极管量子效率测量装置及其测量方法，涉及发光二极管。装置设有计算机、数字电源表、温度控制源表、温控夹具、光谱仪和红外热像仪。测量方法：采用发光二极管量子效率测量装置；由温度控制源表设定一组温度值T，设定的一组温度值至少包含5个不同的温度值T；按温度值和电流值测量得到不同温控夹具温度值TS下的发光二极管的一组量子效率η；通过所测得的一组量子效率η，先画出不同电流值I条件下量子效率η与温度T的关系图；通过公式获得消除热影响情况下的量子效率(η′)。 |
