一种晶片测试方法
基本信息
| 申请号 | CN201510480909.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN105118795A | 公开（公告）日 | 2015-12-02 |
| 申请公布号 | CN105118795A | 申请公布日 | 2015-12-02 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
| 发明人 | 施勇 | 申请（专利权）人 | 海门市明阳实业有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 226141 江苏省南通市海门市四甲镇人民路438号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种晶片测试方法，包括如下步骤：首先，根据晶片及探针卡的信息，计算同测时探针的最短走向；然后，测试仪把走向的方式通过GPIB(通用接口总线)接口给探针台系统发送命令，控制探针台系统托盘的走向，实现对晶片测试的最优化。本发明利用软件自动计算wafer测试的最短走向，然后测试仪把走向的方式通过GPIB接口给探针卡系统发送命令，控制探针台系统托盘的走向，实现对wafer测试的最优化，减少了在同测时对wafer的扎针次数，从而缩短了wafer的测试时间，提高了测试效率，节省了人力成本。 |
