一种极低温下半导体量子点低噪测量系统专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种极低温下半导体量子点低噪测量系统

基本信息

申请号	CN201310125176.5	申请日	-
公开（公告）号	CN103235251A	公开（公告）日	2013-08-07
申请公布号	CN103235251A	申请公布日	2013-08-07
分类号	G01R31/26(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	尚汝南;郭国平;李海鸥;曹刚;肖明;郭光灿	申请（专利权）人	安徽省中安科技小额贷款股份有限公司
代理机构	北京科迪生专利代理有限责任公司	代理人	中国科学技术大学;合肥本源量子计算科技有限责任公司
地址	230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号
法律状态	-

摘要

一种极低温下半导体量子点低噪测量系统，包括：热沉部分、铜粉滤波器和PCB板载滤波器；热沉部分由制冷机PT1层线夹热沉、PT2层线夹热沉、Still层线夹热沉、100mK层线夹热沉和MC层线夹热沉构成；测量和控制线进入热沉部分后依次通过制冷机PT1层线夹热沉、制冷机PT2层线夹热沉、制冷机Still层线夹热沉、制冷机100mK层线夹热沉和制冷机MC层线夹热沉后至制冷机混合室冷板，经过制冷机混合室最后一级冷板后焊接在D型接口上，D型接口与铜粉滤波器的D型接口入口相连；测量和控制线再经过铜粉滤波器后，由铜粉滤波器的D型接口出口离开，通过一段测量和控制线后，排针接口进入PCB板载滤波电路，最后测量和控制线连接到量子点测量样品相应的电极上。本发明降低了热噪声和电路噪声。