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对讲机芯片测试系统

基本信息

申请号	CN201721681866.9	申请日	-
公开（公告）号	CN207528867U	公开（公告）日	2018-06-22
申请公布号	CN207528867U	申请公布日	2018-06-22
分类号	G01R31/26	分类	测量；测试;
发明人	李英才;禹乾勋	申请（专利权）人	安徽华宇创芯科技有限公司深圳分公司
代理机构	重庆百润洪知识产权代理有限公司	代理人	安徽华宇创芯科技有限公司深圳分公司
地址	518104 广东省深圳市宝安区航城街道黄田杨贝工业区一期第4栋第4层402
法律状态	-

摘要

本实用新型公开了对讲机芯片测试系统，包括handler和固定凸起，所述handler的两侧设置有handler侧板，所述handler侧板的内部设置有防护罩滑槽，所述handler的表面设置有测试板，所述测试板的一端设置有分料梭，所述分料梭的一端设置有良品管，所述分料梭的侧面设置有不良品管，所述测试板的侧面设置有导线固定夹，而且可以通过测试正弦波信号的增益，真实模拟出产品的应用环境，将产品中的功能不良准确地筛选出来，连接各元件的导线可以很有顺序地排列在导线夹内，可以有条理地对各导线连接的元件进行排查，也避免了在排查过程中碰断其他导线，可以由防护罩进行保护，防止硬物对测试装置的撞击，有效地保护测试装置。