快速诊断测试用批次校准系统及方法
基本信息
| 申请号 | CN201611065486.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106501510A | 公开（公告）日 | 2017-03-15 |
| 申请公布号 | CN106501510A | 申请公布日 | 2017-03-15 |
| 分类号 | G01N33/558(2006.01)I;G01N35/00(2006.01)I;G08C17/02(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘志锋;钱律;谢新奇 | 申请（专利权）人 | 贝知（上海）信息科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海光华专利事务所 | 代理人 | 许亦琳 |
| 地址 | 201318 上海市浦东新区康新公路3399弄25号楼4层451室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种快速诊断测试用批次校准系统及方法。本发明的快速诊断测试用批次校准系统包括：试纸条批次信息获取模块、批次校准信息获取模块、测试数据收集模块、及测试数据校准模块。利用本发明的快速诊断测试用批次校准系统可在实际用户使用时对不同批次的测试棒进行校准，以提高测试结果准确性。 |
