—种碲镉汞外延薄膜厚度精准测量装置
基本信息
| 申请号 | CN202022435337.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213397013U | 公开（公告）日 | 2021-06-08 |
| 申请公布号 | CN213397013U | 申请公布日 | 2021-06-08 |
| 分类号 | G01B21/08（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王家武;杨定永;张顺祥;阿凤雄;罗应强 | 申请（专利权）人 | 云南全控机电有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 650000云南省昆明市中国（云南）自由贸易试验区昆明片区经开区阿拉街道办事处云大西路39号新兴产业孵化区A幢1楼103-105号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了测量设备技术领域的—种碲镉汞外延薄膜厚度精准测量装置，包括装置底座，所述装置底座的顶部固定连接有液压杆和控制开关，所述控制开关位于液压杆的右侧，所述液压杆的顶部固定连接有调节平台，所述调节平台的顶部固定连接有固定座，所述固定座的顶部固定连接有调节装置，所述调节装置包括有固定螺纹杆，所述固定螺纹杆的外表面通过螺纹活动连接有手轮，所述固定螺纹杆的外表面位于手轮上方活动连接有活动筒，所述活动筒的底部与手轮的顶部活动连接，该—种碲镉汞外延薄膜厚度精准测量装置，结构简单，操作方便，保证了测量过程的稳定性，提升了对碲镉汞外延薄膜厚度测量的精准性，具有较高的实用性。 |
