检测设备(集成电路薄型物料缺陷检测)
基本信息
申请号 | CN202130722843.3 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN307124640S | 公开(公告)日 | 2022-02-22 |
申请公布号 | CN307124640S | 申请公布日 | 2022-02-22 |
分类号 | 10-05 (13) | 分类 | - |
发明人 | 刘长江;郑军 | 申请(专利权)人 | 聚时科技(江苏)有限公司 |
代理机构 | 湖北天领艾匹律师事务所 | 代理人 | 程明 |
地址 | 210044江苏省南京市江北新区智达路6号智城园区4号楼5楼东侧 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 1.本外观设计产品的名称:检测设备(集成电路薄型物料缺陷检测)。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于基板类、框架类集成电路薄型物料的自动上下料缺陷检测。3.本外观设计产品的设计要点:在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片:设计1立体图。5.指定设计1为基本设计。 |
