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层叠陶瓷电容的筛选方法

基本信息

申请号 CN200410085118.5 申请日 -
公开（公告）号 CN100460884C 公开（公告）日 2009-02-11
申请公布号 CN100460884C 申请公布日 2009-02-11
分类号 G01R31/01(2006.01);H01G13/00(2006.01) 分类 测量；测试;
发明人 伊东和则;堀江优作;长谷部和幸 申请（专利权）人 TDK（苏州）电子有限公司
代理机构 中国专利代理（香港）有限公司 代理人 TDK株式会社;TDK（苏州）电子有限公司
地址 日本东京都
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供不会发生电致伸缩裂纹等、不会损害端子电极且可保证高度可靠性的层叠陶瓷电容的筛选方法。层叠陶瓷电容C在电介质基体1的内部层状埋设多个内部电极21、22，内部电极21与电介质基体1的外面安装的成对的端子电极3、4导通，端子电极3、4具有以Sn为主成分的最外层33、43。包含将层叠陶瓷电容C置于125℃以上180℃以下的温度环境，在端子电极3-4间施加直流电压来测定直流绝缘电阻的步骤。施加直流电压的步骤包含第1步骤和第2步骤，第1步骤中，施加20～40(V/μm)范围内的直流电压V1(V/μm)，第2步骤中，在第1步骤结束后施加考虑了额定电压的直流电压V2(V)。