SOI和体硅混合晶圆结构及其制备方法
基本信息
申请号 | CN201610092270.9 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN107039459A | 公开(公告)日 | 2017-08-11 |
申请公布号 | CN107039459A | 申请公布日 | 2017-08-11 |
分类号 | H01L27/12(2006.01)I;H01L21/762(2006.01)I;H01L21/84(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 李冰 | 申请(专利权)人 | 上海硅通半导体技术有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 200437 上海市杨浦区逸仙路135号2号楼2楼 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了SOI和体硅混合晶圆的结构和制备方法,以绝缘体上硅(SOI)晶圆为衬底,制备SOI结构与体硅结构共存的混合晶圆,以作为光路电路单片集成芯片的衬底。SOI结构和体硅结构并存的混合晶圆,其特征在于,混合晶圆由SOI结构部分和体硅部分混合组成;绝缘体上硅部分包括顶硅层、埋氧层和硅衬底,体硅部分为单晶硅结构;SOI区域为光路区域,体硅区域为电路区域。制备方法包括在起始SOI晶圆上依靠光刻和刻蚀产生制备体硅区域的窗口,通过常规外延的方法生长体硅区域,再通过平坦化工艺去除不需要的多晶硅使表面平整;制备方法其特征还在于在SOI区域和体硅区域间隔离的选择、外延工艺的选择和平坦化工艺的选择。 |
