一种固态硬盘的高精密测试系统
基本信息
| 申请号 | CN202110957239.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113405755A | 公开（公告）日 | 2021-09-17 |
| 申请公布号 | CN113405755A | 申请公布日 | 2021-09-17 |
| 分类号 | G01M7/02（2006.01）I;G01N17/00（2006.01）I;G11C29/56（2006.01）I;G11C29/50（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘现亭;张喆 | 申请（专利权）人 | 深圳泰思特半导体有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市嘉宏博知识产权代理事务所 | 代理人 | 孙强 |
| 地址 | 518000广东省深圳市坪山区龙田街道兰竹路以北锦盛四路2号珈伟工业厂区厂房A401—414 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种固态硬盘的高精密测试系统，包括操作台，所述操作台顶部固定安装有测试箱，所述测试箱顶部固定安装有温度测试机构，所述测试箱左侧固定安装有湿度测试机构，所述测试箱内底部固定安装有抗震测试机构，所述抗震测试机构的顶部固定安装有定位工装，所述定位工装的内部夹取有固态硬盘本体，所述测试箱的内部右侧上端固定安装有导电机构，所述导电机构下端端部与固态硬盘本体电性连接；本设备通过设置温度测试机构、抗震测试机构和湿度测试机构，可较为全面精确的对固态硬盘进行测试，同时设置安装机构，使得本设备安装与拆卸均较为方便，进而使得本装置实用性强，应用前景较为广泛，值得推广使用。 |
