高精密内存测试设备
基本信息
| 申请号 | CN202110797886.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113257335A | 公开（公告）日 | 2021-08-13 |
| 申请公布号 | CN113257335A | 申请公布日 | 2021-08-13 |
| 分类号 | G11C29/56 | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 田景均;刘坤 | 申请（专利权）人 | 深圳泰思特半导体有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市嘉宏博知识产权代理事务所 | 代理人 | 孙强 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道兰竹路以北锦盛四路2号珈伟工业厂区厂房A401—414 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种高精密内存测试设备，本发明能够完成对高精密内存批量化、高效率的测量，本发明的设备包括夹紧测试台以及旋转定位器，该夹紧测试台包括底台、固定测试针板以及活动测试针板，在该固定测试针板与该活动测试针板之间形成一测试腔，该旋转定位器包括转轴、转动臂以及推板，该测试腔具有打开状态以及夹紧测试状态，当该测试腔处于打开状态的时候，该活动测试针板横移，该测试腔的横向宽度增大，此刻，能够完成装料或者取料的动作，当该测试腔处于夹紧测试状态的时候，该旋转定位器转动顶推该活动测试针板，该测试腔的横向宽度缩小，内存条被夹设在该测试腔中，若干该测试针与内存条的接触引脚接触，以进行测试的动作。 |
