芯片测试架
基本信息
| 申请号 | CN201921746905.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN211402438U | 公开（公告）日 | 2020-09-01 |
| 申请公布号 | CN211402438U | 申请公布日 | 2020-09-01 |
| 分类号 | G01R1/04(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 田景均 | 申请（专利权）人 | 深圳泰思特半导体有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张小容 |
| 地址 | 518000广东省深圳市坪山区龙田街道兰竹路以北锦盛四路2号珈伟工业厂区厂房A401-414 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开一种芯片测试架，其中，芯片测试架包括测试主板、测试座以及主控模块，测试座用于装设待测芯片，主控模块可拆卸连接于测试主板，且测试座可拆卸连接于所述测试主板，以使所述测试主板、测试座、主控模块三者之间电连接。通过将主控模块可拆卸连接于测试主板，使得在需要更换主控模块时，直接将主控模块拆卸下来，更换所需要的主控模块；通过将测试座可拆卸连接于所述测试主板，测试座也能随时更换，达到了需要更换主控模块和测试座时，可以直接更换所需的主控模块和测试座，解决了主控模块和测试座出现问题时，需要更换时，浪费测试板的问题。 |
