芯片测试系统
基本信息
| 申请号 | CN201921751674.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN211180093U | 公开（公告）日 | 2020-08-04 |
| 申请公布号 | CN211180093U | 申请公布日 | 2020-08-04 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 田景均 | 申请（专利权）人 | 深圳泰思特半导体有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张小容 |
| 地址 | 518000广东省深圳市坪山区龙田街道兰竹路以北锦盛四路2号珈伟工业厂区厂房A401-414 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开一种芯片测试系统，包括测试主板和桥接器，测试主板内设有若干个测试模块，每个测试模块对应设有若干数量的测试接口；桥接器用于与芯片通讯连接，且所有测试接口均与桥接器通讯连接；桥接器根据芯片的数据通道的数量，控制与测试接口的导通数量，以使对应的测试模块与芯片导通。本实用新型技术方案实现了无需增加测试架，便能够测试不同数据通道的芯片的功能，提高了芯片测试的便利性。 |
