一种SERS单元、SERS芯片及SERS检测系统
基本信息
| 申请号 | CN201821000377.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN208399384U | 公开（公告）日 | 2019-01-18 |
| 申请公布号 | CN208399384U | 申请公布日 | 2019-01-18 |
| 分类号 | G01N21/65（2006.01）I; C23C28/00（2006.01）I; C25D11/04（2006.01）I; B82Y40/00（2011.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 郭清华; 孙海龙 | 申请（专利权）人 | 苏州英菲尼纳米科技有限公司 |
| 代理机构 | 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 汪青;向亚兰 |
| 地址 | 215000 江苏省苏州市工业园区若水路398号D栋7楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种SERS单元、SERS芯片以及SERS检测系统，SERS单元包括基材和多个纳米粒子聚集体，基材包括由第一材料构成的第一层、设置在第一层上方且由第二材料构成的第二层，第二层的上表面分布有多个纳米凹陷部；每一个纳米粒子聚集体由多个纳米粒子聚集形成，且每一个纳米粒子聚集体分别被一对应的纳米凹陷部所限制。本实用新型的SERS单元及SERS芯片具有高SERS活性(EF～108)，高均匀性(任意1μm2点误差<10％)，极佳的稳定性(>1年)和批次重现性(误差<15％)等优点，可广泛应用于物质的痕量分析或生物分子的检测。 |
