一种SERS芯片及其制备方法和应用

基本信息

申请号 CN201810240142.3 申请日 -
公开(公告)号 CN108645832B 公开(公告)日 2021-07-27
申请公布号 CN108645832B 申请公布日 2021-07-27
分类号 G01N21/65(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 孙海龙;郭清华 申请(专利权)人 苏州英菲尼纳米科技有限公司
代理机构 苏州创元专利商标事务所有限公司 代理人 汪青;周敏
地址 215000江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区09幢406室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了SERS基底及其制备方法和应用,SERS芯片包括SERS衬底和设置在SERS衬底表面的多个纳米结构单元,纳米结构单元包括设置在SERS衬底表面的多个凹坑、设置在凹坑内的纳米粒子聚集体,纳米结构单元还包括连接在纳米粒子聚集体表面的功能分子层,功能分子层用于将待测分子固定到纳米粒子聚集体表面。本发明通过在基底上修饰一种或多种功能分子,使得芯片具备不同的功能,从而可以用于不同的检测领域。该芯片的制备工艺简单、效率高、成本低、能大规模地生产高性能SERS芯片,能很好的满足商业化的需求。本发明制得的SERS芯片,可重复性高,热点均匀,性质稳定,可大面积生长,灵敏度高。