光谱仪的温控方法、温控装置及气体分析仪
基本信息
| 申请号 | CN201910596321.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110427057A | 公开（公告）日 | 2021-07-06 |
| 申请公布号 | CN110427057A | 申请公布日 | 2021-07-06 |
| 分类号 | G05D23/20;G01N21/01 | 分类 | 控制；调节; |
| 发明人 | 敖小强;李瑞姣 | 申请（专利权）人 | 北京雪迪龙科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京律和信知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 冷文燕;王月春 |
| 地址 | 102206 北京市昌平区回龙观国际信息产业基地3街3号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种光谱仪的温控方法、温控装置及气体分析仪。光谱仪的温控方法包括：获取环境温度T和环境相对湿度，根据环境温度T和环境相对湿度确定结露点，根据结露点确定温控区间最小值Ta；根据光谱仪的最佳工作温度区间确定温控区间最大值Tb；确定临界值Tc，Tc＝（Ta+Tb）/2；若环境温度T高于临界值Tc，对光谱仪进行降温，温控目标值为Ta；若环境温度T低于临界值Tc，对光谱仪进行加温，温控目标值为Tb。本发明采用分段式控温，使得光谱仪可满足宽范围环境温度的要求。 |
