一种测量纳米材料的生产控制设备
基本信息
| 申请号 | CN201710327948.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN107144246A | 公开（公告）日 | 2017-09-08 |
| 申请公布号 | CN107144246A | 申请公布日 | 2017-09-08 |
| 分类号 | G01B21/00(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 崔建勋 | 申请（专利权）人 | 复朗施（北京）纳米科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 100048 北京市海淀区三虎桥南路17号院（北院）6号楼502室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 为解决上述技术问题，本发明涉及一种测量设备领域，更具体的说是一种测量纳米材料的生产控制设备，可以在纳米材料的生产控制上测量其结构尺寸，采用丝杠导轨的形式可以保证测量精度，滑动底座位于安装挡块Ⅰ与安装挡块Ⅱ之间，传感器滑动座与滑动块相连接，中间固定块与滑动块相连接，转动座与滑动块相连接，转动座与丝杠相连接，丝杠与轴承Ⅰ相连接，丝杠与螺母相连接，丝杠与轴承Ⅱ相连接；端盖与安装挡块Ⅰ相连接，定位板与滑动底座相连接，挡板与滑动块相连接，挡套Ⅰ与滑动块相连接，螺钉与测量底座相连接，顶丝与挡套Ⅱ相连接，齿轮与丝杠相连接，轴承挡环与安装挡块Ⅱ相连接，轴承Ⅰ位于丝杠与安装挡块Ⅱ之间。 |
