CIS芯片动态坏点处理方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN201911323990.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111083401A | 公开（公告）日 | 2020-04-28 |
| 申请公布号 | CN111083401A | 申请公布日 | 2020-04-28 |
| 分类号 | H04N5/367;H04N5/374 | 分类 | 电通信技术; |
| 发明人 | 胡兵;黄昊;姜洪霖 | 申请（专利权）人 | 成都费恩格尔微电子技术有限公司 |
| 代理机构 | 成都蓉创智汇知识产权代理有限公司 | 代理人 | 谭新民;赵雷 |
| 地址 | 610000 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天府大道中段1268号1栋3层22、23号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种CIS芯片动态坏点处理方法及系统，该方法包括：以一个像素点为中心形成矩阵像素阵列，该像素点为G中心；令Gmax为矩阵中的所有像素点的像素中的最大值，Gmin为矩阵中的所有像素点的像素中的最小值，GAvg为矩阵中去除G中心、Gmax和Gmin外剩余点的平均值，Gdif＝Gmax‑Gmin；判断G中心是否为坏点，若G中心>GAvg+Gdif或G中心 |
