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一种SOC芯片测试与验证系统

基本信息

申请号	CN201821923916.4	申请日	-
公开（公告）号	CN209746085U	公开（公告）日	2019-12-06
申请公布号	CN209746085U	申请公布日	2019-12-06
分类号	G01R31/28（2006.01）	分类	测量；测试;
发明人	颜军; 孙凌燕; 黄成; 叶静静; 石金明	申请（专利权）人	上海欧比特航天科技有限公司
代理机构	广东朗乾律师事务所	代理人	上海欧比特航天科技有限公司
地址	200000 上海市嘉定区众仁路399号1幢2层J1504室
法律状态	-

摘要

本实用新型公开一种SOC芯片测试与验证系统，其特征在于，包括：所述FPGA处理模块、电源模块、SRAM存储模块A、FLASH存储器A、测试电路、扩展测试模块；所述FPGA处理模块与电源模块、测试电路、扩展测试模块、SRAM存储模块A、FLASH存储器A连接；所述电源模块与所述FPGA处理模块、测试电路、扩展测试模块连接；本实用新型提供一种SOC芯片测试与验证系统，对PLC专用控制SOC芯片“CMPAC”和总线型SOC芯片“BUSOC”两种芯片进行批量测试，测试CMPAC芯片和BUSOC芯片所有功能是否正常，同时需要预留部分测试点以供查看信号时序是否正确，提高芯片的生产效率、保证了芯片产品的质量。