一种半导体引线框架用检测装置
基本信息
| 申请号 | CN202121819611.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215449326U | 公开（公告）日 | 2022-01-07 |
| 申请公布号 | CN215449326U | 申请公布日 | 2022-01-07 |
| 分类号 | G01R1/02（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 黄昌民 | 申请（专利权）人 | 无锡德力芯半导体科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京睿博行远知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张燕平 |
| 地址 | 214000江苏省无锡市新华路8号（9号厂房） | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种半导体引线框架用检测装置，涉及半导体引线框架检测技术领域。本实用新型包括检测装置主体，检测装置主体的下端固定有多个圆形支腿，检测装置主体的内部安装有检测缓冲机构，检测缓冲机构用于检测时对引线框架进行防护。本实用新型通过检测缓冲机构的结构设计，能有效的在检测时对引线框架进行防护，避免了引线框架的损坏，保障了引线框架的使用；通过电机、第一链轮、链条、第二链轮、螺杆和圆形滑柱的相互配合，能有效的调整引线框架放置的高度，能适应不同操作人员作业，提升了检测的效率。 |
