RFID标签芯片和RFID标签芯片的校验方法
基本信息
| 申请号 | CN202010642849.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111950680A | 公开（公告）日 | 2020-11-17 |
| 申请公布号 | CN111950680A | 申请公布日 | 2020-11-17 |
| 分类号 | G06K19/077;G06K19/10 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 王学先 | 申请（专利权）人 | 智汇芯联（厦门）微电子有限公司 |
| 代理机构 | 厦门仕诚联合知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 吴圳添 |
| 地址 | 361000 福建省厦门市软件园二期观日路34号201室J单元 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | RFID标签芯片和RFID标签芯片的校验方法。所述RFID标签芯片包括存储器，所述存储器包括保留区、电子产品代码区、标签识别区和用户区，所述标签识别区存储有标签识别值，所述电子产品代码区、保留区和用户区的其中一个区域，存储有所述标签识别值的校验码。所述RFID标签芯片能够进行相应的检验，使用户及时确认RFID标签芯片是否可用。 |
