转弯轨迹识别方法及相应的设备、存储介质和产品
基本信息
| 申请号 | CN202111313096.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113936267A | 公开（公告）日 | 2022-01-14 |
| 申请公布号 | CN113936267A | 申请公布日 | 2022-01-14 |
| 分类号 | G06V20/58（2022.01）I;G06V20/56（2022.01）I;G06V10/25（2022.01）I;B60W50/00（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 崔俊涛 | 申请（专利权）人 | 上海万位科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海华工专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 赵孟琴 |
| 地址 | 200941上海市宝山区锦乐路947号1幢A3461室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种转弯轨迹识别方法及相应的设备、存储介质和产品，主要包括步骤：定义滑动窗口的大小N、窗口滑动的条件参数M、第一角度阈值；获得轨迹数据；A、逐一比较轨迹数据中相邻的两条数据的角度，找到角度差超过所述第一角度阈值的两条相邻的数据，得到作为转弯轨迹的第一端点；B、若第一端点在当前窗口中的位置超过所述条件参数M，则将窗口向后滑动或者临时向后扩大当前窗口；否则，C、找到当前窗口中角度差超过所述第一角度差阈值的最后两个相邻的数据，得到作为转弯轨迹的第二端点；D、所述第一端点‑第二端点的数据对应描述一段转弯轨迹。本发明可将转弯轨迹直接用于轨迹的后续处理和计算，且提高了效率。 |
