一种精确测试IC基准电压的测试系统及测试方法
基本信息
| 申请号 | CN201611151518.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106501577A | 公开（公告）日 | 2017-03-15 |
| 申请公布号 | CN106501577A | 申请公布日 | 2017-03-15 |
| 分类号 | G01R19/00(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王学军;王洪祥;杨振;薛路磊 | 申请（专利权）人 | 绍兴芯谷科技有限公司 |
| 代理机构 | 绍兴市越兴专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 绍兴芯谷科技有限公司 |
| 地址 | 312000 浙江省绍兴市越城区天光桥2号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种精确测试IC基准电压的测试系统及测试方法，测试系统包括IC器件、结构对称的信号处理电路和V/I测试源，信号处理电路的信号输入端与IC器件的基准电压测试端子相连，信号处理电路的信号输出端与V/I测试源相连；其测试方法为信号处理电路分别将输入电压Vin和稳压管电压Vz缓冲放大后进行比较，并将比较后的信号通过减法放大后输出电压Vout给V/I测试源。本发明可消除测试设备地线及空间噪声的共模干扰，降低测试系统因测试误差造成的影响，获得更高精度的测试结果。 |
