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测试夹具（Wafer通用测试夹具）

基本信息

申请号 CN202130422323.0 申请日 -
公开（公告）号 CN306962707S 公开（公告）日 2021-11-26
申请公布号 CN306962707S 申请公布日 2021-11-26
分类号 10-05 （13） 分类 -
发明人 丁兆达;高强;历德义 申请（专利权）人 浙江季丰电子科技有限公司
代理机构 上海申新律师事务所 代理人 林志豪
地址 201100上海市闵行区友东路258-288号2幢101室
法律状态 -

摘要

摘要 1.本外观设计产品的名称：测试夹具（Wafer通用测试夹具）。2.本外观设计产品的用途：用于晶圆的可靠性测试夹具。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。