应用于5G元件的谐振腔及测试方法

基本信息

申请号 CN202010736819.X 申请日 -
公开(公告)号 CN111751626A 公开(公告)日 2020-10-09
申请公布号 CN111751626A 申请公布日 2020-10-09
分类号 G01R27/26(2006.01)I;G01R27/28(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 许光;吴继伟;杨国兴 申请(专利权)人 大连达利凯普科技股份公司
代理机构 大连智高专利事务所(特殊普通合伙) 代理人 马庆朝
地址 116630辽宁省大连市经济技术开发区光明西街10号1-4层
法律状态 -

摘要

摘要 一种应用于5G元件的谐振腔及测试方法,属于谐振腔测试技术领域。方案如下:程序初始化,输入测试参数;输入谐振腔的校准参数;依次寻找第一至第八谐振点的频率,降低扫描时间,减小扫描范围,重新扫描,分别读取各谐振点的频率和Q值;计算分别计算每个谐振点的ESR值、Corrected ESR值、Cp值和Q值。有益效果:本发明所述的应用于5G元件的谐振腔测试方法通过使用矢量网络分析仪,可计算高Q电容3.5GHz以下各个谐振点的ESR值等参数,测试精度更高,测试效率更快。