深低温叶尖间隙传感器的循环寿命试验方法
基本信息
| 申请号 | CN202110922150.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113639694A | 公开（公告）日 | 2021-11-12 |
| 申请公布号 | CN113639694A | 申请公布日 | 2021-11-12 |
| 分类号 | G01B21/16（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李刚;周恩民;沈嘉琪;张文;徐宇峰;何文信;张金龙;洪兴福;闻翔;雷鹏飞;郁建峰;刘恺 | 申请（专利权）人 | 上海电气控股集团有限公司 |
| 代理机构 | 上海科琪专利代理有限责任公司 | 代理人 | 郑明辉;董艳慧 |
| 地址 | 621000四川省绵阳市二环路南段6号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种深低温叶尖间隙传感器的循环寿命试验方法，包括步骤：步骤1：将模拟叶片（6）、第一温度传感器（7）和深低温叶尖间隙传感器（8）密封且独立封装在深冷箱（1）内；步骤2：通过温控组件设定循环寿命试验的变温过程参数，并根据变温过程参数计算低温下保温时间Hdhold和高温下保温时间Huhold；步骤3：温控组件实现深冷箱（1）内的循环升温和降温；步骤4：在深冷箱（1）内升温和降温循环进行的过程中，温控组件实时采集数据。本发明能有效控制深低温叶尖间隙传感器试验环境的升温和降温速度，真实模拟深低温叶尖间隙传感器的工作环境，确保深低温叶尖间隙传感器的性能验证结果的有效性和准确性。 |
