一种元器件的寿命评价方法、装置、计算机设备和存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202210058127.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114444387A | 公开（公告）日 | 2022-05-06 |
| 申请公布号 | CN114444387A | 申请公布日 | 2022-05-06 |
| 分类号 | G06F30/27（2020.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06N20/00（2019.01）I;G06F119/02（2020.01）N | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 张增元;方子敏;高军;徐伟 | 申请（专利权）人 | 广东科鉴检测工程技术有限公司 |
| 代理机构 | 中山市华朋弘远知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 修瑞杰 |
| 地址 | 510000广东省广州市高新技术产业开发区科学城玉树工业园敬业三街2号J栋103房 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请涉及一种元器件的寿命评价方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：所述方法包括：获取到元器件的参数；根据所述参数进行分类，得到不同类别的参数；针对不同类别的参数进行分析，得到不同权重；根据所述参数及权重基于效用函数建立评估模型，得到元器件的能力值。采用本方法能够有效地发现现有的元器件的不足，提高元器件的寿命评价能力。 |
