仪器电控设备加速退化试验方法和系统
基本信息
| 申请号 | CN201711366755.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108399271B | 公开（公告）日 | 2021-07-06 |
| 申请公布号 | CN108399271B | 申请公布日 | 2021-07-06 |
| 分类号 | G06F30/20;G06F119/02;G06F119/04 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 高军;唐翔;叶涛;卢家锋;文武 | 申请（专利权）人 | 广东科鉴检测工程技术有限公司 |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人 | 刘艳丽 |
| 地址 | 510663 广东省广州市广州高新技术产业开发区科学城玉树工业园敬业三街2号J栋103房 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种仪器电控设备加速退化试验方法，首先根据仪器电控设备试验样品的原始性能参数对仪器电控设备试验样品的性能参数保质期进行预测，然后合理地设置加速退化试验条件，在进行加速退化试验置换，再对试验所得的失效时间数据进行可靠性分析，确定满足可靠性条件的失效时间数据作为试验样品的试验数据，能够有效提高加速退化试验数据的可靠性。 |
