一种四拼芯片的测试治具
基本信息
| 申请号 | CN202020574967.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212646737U | 公开（公告）日 | 2021-03-02 |
| 申请公布号 | CN212646737U | 申请公布日 | 2021-03-02 |
| 分类号 | G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 荣国青;门蒙;张健星 | 申请（专利权）人 | 苏州辉垦电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 苏州智品专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 吕明霞 |
| 地址 | 215134江苏省苏州市工业园区唯亭春辉路5号跨春工业坊5#D | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种四拼芯片的测试治具，包括基座，所述基座的上部设有方形排列的第一芯片槽、第二芯片槽、第三芯片槽、第四芯片槽，所述第一芯片槽连接有第一感应槽，所述第二芯片槽连接有第二感应槽，所述第三芯片槽连接有第三感应槽，所述第四芯片槽连接有第四感应槽。本实用新型的有益效果是：是一种高精度的检测治具，可同时检测两个、三个及四个芯片，也可单独检测一个芯片，且在芯片槽的两侧均设有圆台阶销钉，不仅定位精确，而且能保证每个芯片均不会被压伤，治具简单，便于加工。 |
