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一种光学镜面中心厚度测量装置

基本信息

申请号 CN202023260165.2 申请日 -
公开（公告）号 CN213714219U 公开（公告）日 2021-07-16
申请公布号 CN213714219U 申请公布日 2021-07-16
分类号 G01B11/06（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 张志平 申请（专利权）人 泰州阿法光电科技有限公司
代理机构 北京和信华成知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 李博茜
地址 225300江苏省泰州市海陵工业园区12号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型属于测量装置技术领域，公开了一种光学镜面中心厚度测量装置，包括底座，所述底座的上方一侧位置水平方向设置有滑轨，所述滑轨的底部固定连接于底座，所述滑轨的内部设置有滑块，所述滑块的上方固定连接有固定座，所述固定座的外部一侧水平方向设置有横板，本实用新型设置了激光测厚装置以及移动结构，利用激光测厚装置可以在不接触光学镜面的情况下对其中心厚度进行测量处理，保证光学镜面在进行测量的过程中不会出现接触磨损的现象，且在移动结构的工作下激光测厚装置可以在水平方向上进行平移运动，方便了根据测量的光学镜面的大小不同对测量中心点进行调整，既提高了测量装置的工作性能，又优化了测量装置的结构性能。