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一种光学元件平面度的测量工具

基本信息

申请号 CN202023260162.9 申请日 -
公开（公告）号 CN213714192U 公开（公告）日 2021-07-16
申请公布号 CN213714192U 申请公布日 2021-07-16
分类号 G01B5/28（2006.01）I;G01B5/00（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 张志平 申请（专利权）人 泰州阿法光电科技有限公司
代理机构 北京和信华成知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 李博茜
地址 225300江苏省泰州市海陵工业园区12号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型属于光学元件技术领域，且公开了一种光学元件平面度的测量工具，包括底座，所述底座的顶部两端对称设置有支撑柱，且两个支撑柱之间连接有横梁，所述横梁上滑动连接有移动套，且移动套的底部连接有测量杆，所述底座的顶部开设有滑轨，且滑轨的内部滑动连接有滑轮，所述滑轮与支撑柱连接，所述底座顶部靠近两个支撑柱后方中间位置处固定有夹持机构；本实用新型设置了滑轮和滑轨，通过滑轮在滑轨中移动带动测量杆在光学元件上移动，避免将整个测量装置置于光学元件上移动，且通过滑轨对滑轮的限制，避免测量装置跌落，还设置了定位机构，通过弹簧带动定位板与底座抵触，实现对移动后的测量装置进行限位固定，方便使用。