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嵌入式芯片测试插座及其加工方法

基本信息

申请号 CN201410431753.8 申请日 -
公开（公告）号 CN104198772B 公开（公告）日 2017-11-21
申请公布号 CN104198772B 申请公布日 2017-11-21
分类号 G01R1/04(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 张龙;刘德先 申请（专利权）人 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
代理机构 北京科亿知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
地址 215021 江苏省苏州市工业园区苏虹中路255号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种嵌入式芯片测试插座，包括探针保持板和金属外框，金属外框上阵列设置有多个安装孔，安装孔内安装有嵌入式芯片定位板，嵌入式芯片定位板的四周边上设置有台阶，安装孔在靠近上表面一侧设置有抵触所述台阶的凸台，嵌入式芯片定位板上设置有阵列分布的定位孔，探针保持板上设置有与定位孔对应的保持孔，定位孔和保持孔配合固定有测试探针，嵌入式芯片定位板采用复合材料，金属外框达到增强测试插座强度的目的，同时又保证了插座的电气性能；还能在一定程度上杜绝测试过程中晶粒间的电磁干扰；金属外框的变形量要小于传统测试插座，当测试探针数量大于1500根时，测试插座表面变形量仍然能满足不大于0.05MM的要求。