一种基于双面引脚阵列半导体芯片的测试治具
基本信息
| 申请号 | CN201520709032.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN205049698U | 公开（公告）日 | 2016-02-24 |
| 申请公布号 | CN205049698U | 申请公布日 | 2016-02-24 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 周惠春;陈金荣;戴云 | 申请（专利权）人 | 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司 |
| 代理机构 | 北京科亿知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司 |
| 地址 | 215021 江苏省苏州市工业园区苏虹中路255号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种基于双面引脚阵列半导体芯片的测试治具，包括测试主板、主测试插座探针定位板、主测试插座探针保持板、主测试插座弹簧测试探针、被测半导体芯片、上测试座辅助测试电路板、上测试插座探针定位板、上测试插座探针保持板、上测试插座弹簧测试探针、测试用存储芯片、存储芯片测试插座探针定位板、存储芯片测试插座探针保持板、存储芯片测试插座弹簧测试探针和压块。本实用新型是在传统的测试座的基础上，通过上测试插座以及上测试插座辅助测试电路板及存储芯片测试插座，构建一种新的测试架构，从而完成双面引脚阵列半导体芯片的系统测试，满足双面引脚阵列半导体芯片新型封装技术的需要。 |
