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一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具

基本信息

申请号 CN201520709033.3 申请日 -
公开（公告）号 CN205049602U 公开（公告）日 2016-02-24
申请公布号 CN205049602U 申请公布日 2016-02-24
分类号 G01R1/04(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 穆海燕;刘德先;张兰昌 申请（专利权）人 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
代理机构 北京科亿知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
地址 215021 江苏省苏州市工业园区苏虹中路255号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具，自下而上依次包括测试主板、主测试插座探针定位板、主测试插座探针保持板，上测试插座探针定位板、上测试插座探针保持板和上测试座辅助测试电路板；主测试插座探针定位板和上测试插座探针定位板之间留有容置空间；主测试插座探针定位板内部嵌有主测试插座弹簧测试探针，上测试插座探针定位板内部嵌有上测试插座弹簧测试探针。本实用新型是在传统的测试座的基础上，通过增加上测试插座以及上测试插座辅助测试电路板及固定在辅助测试板上的扩展原器件，从而构建一种新的测试架构，形成测试回路。从而完成双面引脚阵列半导体芯片的系统测试，满足双面引脚阵列半导体芯片新型封装技术的需要。