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新型可调节测试插座盖

基本信息

申请号 CN201510007682.3 申请日 -
公开（公告）号 CN104535800B 公开（公告）日 2017-09-26
申请公布号 CN104535800B 申请公布日 2017-09-26
分类号 G01R1/02(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 周惠春;拉美西斯 申请（专利权）人 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
代理机构 北京科亿知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 安拓锐高新测试技术（苏州）有限公司
地址 215021 江苏省苏州市工业园区苏虹中路255号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种新型可调节测试插座盖，包括中空的底座，底座上侧设置有上壳体，底座的一侧与上壳体的一侧可旋转的连接，上壳体上设置有可旋转的锁定件，锁定件可锁扣在底座的卡扣上，上壳体的下侧还弹性固定有压板，上壳体中间设置有圆柱形的中空部，压圈上设置有与中空部的内螺纹配合的外螺纹，压圈上固定连接有旋钮部，压圈和旋钮部之间固定有刻度盘，刻度盘上设置有多个定位孔，上壳体上设置有与定位孔对应的定位件，刻度盘上在压圈一侧还设置有限位件，限位件限制压圈旋转的角度，通过调整定位件卡固在刻度盘的不同定位孔中，可使限位件限制压圈旋转不同的角度，使压板下降不同的高度，实现一套测试插座盖应用于多个不同厚度的芯片测试。