一种基板性能测试设备
基本信息
申请号 | CN202120521766.X | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN214669187U | 公开(公告)日 | 2021-11-09 |
申请公布号 | CN214669187U | 申请公布日 | 2021-11-09 |
分类号 | G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 丁永贵 | 申请(专利权)人 | 南京澯森电子有限公司 |
代理机构 | 北京挺立专利事务所(普通合伙) | 代理人 | 张亚伟 |
地址 | 211599江苏省南京市六合区龙池街道新港湾路95号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型涉及性能测试设备技术领域,且公开了一种基板性能测试设备,包括底座,所述底座的顶部固定连接有第一支撑柱和第二支撑柱,第一支撑柱和第二支撑柱的顶端固定连接有同一个支撑板,底座的顶部固定连接有位于第一支撑柱和第二支撑柱之间的放置板,支撑板上开设有滑动孔,滑动孔内滑动连接有滑动板,滑动板的底端延伸至支撑板的下方并固定连接有固定板,固定板的底部固定连接有推杆电机,推杆电机的输出轴上固定连接有探针。本实用新型通过对探针的移动定位和刻度尺的设置方便对探针进行精确定位,提升检测的精确度,通过对探针的高度调节,可测量不同型号的基板,方便实用,满足了使用者的需要。 |
