半导体激光器老化筛选设备和筛选方法
基本信息
| 申请号 | CN01129827.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN1186865C | 公开（公告）日 | 2005-01-26 |
| 申请公布号 | CN1186865C | 申请公布日 | 2005-01-26 |
| 分类号 | H01S5/00;H01L21/66 | 分类 | 基本电气元件; |
| 发明人 | 马军;唐宽平;何德毅;邱海波;陈良惠;孙睦光;张浩先 | 申请（专利权）人 | 惠州市中科光电有限公司 |
| 代理机构 | 广州粤高专利代理有限公司 | 代理人 | 惠州市中科光电有限公司 |
| 地址 | 516023广东省惠州市小金口镇金府路六号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种半导体激光器老化筛选设备和基于该设备的老化筛选方法，在设备的控制待测器件发光的功率控制电路中采用数字电位器，并通过单片机对数字电位器的自动调控，然后将结果输入单片机和计算机，实现了半导体激光器件老化筛选过程的自动化，为工业化大批量生产后的筛选分级提供了基础。 |
