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一种半导体激光器老化方法

基本信息

申请号 CN200410085345.8 申请日 -
公开（公告）号 CN1619899A 公开（公告）日 2005-05-25
申请公布号 CN1619899A 申请公布日 2005-05-25
分类号 H01S5/00;H01L21/66;G01R31/26 分类 基本电气元件;
发明人 何德毅;唐宽平;马军 申请（专利权）人 惠州市中科光电有限公司
代理机构 广州粤高专利代理有限公司 代理人 罗晓林
地址 516023广东省惠州市小金口镇金府路6号
法律状态 -

摘要

摘要 一种多路半导体激光器老化方法，将半导体激光二极管LD逐只装在多路LD测试及老化夹具上，该夹具与配备有电源及与中央分析、控制计算机联接的多路恒功率控制电路联接；计算机首先测试与夹具上某只LD匹配的恒功率电阻，再将多路恒功率控制电路中与该只LD匹配的功率控制电路单元与其联通，使该只LD在与实际工况相同或相近似的环境下进行老化，然后再对余下的待测LD逐个完成前述步骤。本发明利用的设备多为对现有设备的改造，使设备的电路更加简单、可靠性增加且操作方便，只需接上电源即可以进行老化；老化效率高，老化结果更准确、更实用；免调试且又恒功率工作，使得LD不会受到损害。