一种共聚焦三维测量系统和坐标、颜色测量方法
基本信息
| 申请号 | CN202111020692.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113776459A | 公开（公告）日 | 2021-12-10 |
| 申请公布号 | CN113776459A | 申请公布日 | 2021-12-10 |
| 分类号 | G01B11/24（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 魏悦 | 申请（专利权）人 | 上海美沃精密仪器股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人 | 翁若莹 |
| 地址 | 201100上海市闵行区三鲁公路3279号明浦二期7号楼1-3楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种共聚焦三维测量系统，其特征在于，包括激光光源、数字微镜阵列、分光器件、深度扫描透镜和图像传感器；所述激光光源发射一定直径的准直激光投射在数字微镜阵列，经数字微镜阵列的反光镜阵列投射一组具有一定间隔的点阵列通过分光器件到被测的目标物体表面，投射在目标物体上不同深度上的光点信息，经深度扫描透镜后由图像传感器采集。 |
