氧化镓基半导体结构及其制备方法

基本信息

申请号 CN201911283509.0 申请日 -
公开(公告)号 CN111129166A 公开(公告)日 2020-05-08
申请公布号 CN111129166A 申请公布日 2020-05-08
分类号 H01L29/872;H01L29/06;H01L21/329 分类 基本电气元件;
发明人 龙世兵;周选择;徐光伟;熊文豪;赵晓龙;刘明 申请(专利权)人 合肥中科微电子创新中心有限公司
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 李佳
地址 230000 安徽省合肥市中国(安徽)自由贸易试验区合肥市高新区望江西路5089号中国科学技术大学先进技术研究院未来中心A1205-A1208
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种氧化镓基半导体结构及其制备方法,该氧化镓基半导体结构包括:氧化镓基外延层,具有多个沟道,该多个沟道形成于该氧化镓基外延层上表面且相互间隔第一距离;多个低势垒肖特基电极,形成于所述多个沟道之间的氧化镓基外延层上表面;以及高势垒肖特基电极,形成于所述氧化镓基外延层上表面,且覆盖所述多个沟道及所述多个低势垒肖特基电极。该氧化镓基半导体结构同时结合了高、低势垒的优势,具有较低的开启电压的同时可以维持较小的反向漏电流的优势,能够保证开态电阻不会有明显增大,甚至会有降低的效果,能够使得双势垒肖特基能够有效应的用于高温领域。