一种半导体测试系统的开关切换电路及方法
基本信息
| 申请号 | CN202110689258.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113252950B | 公开（公告）日 | 2021-09-24 |
| 申请公布号 | CN113252950B | 申请公布日 | 2021-09-24 |
| 分类号 | G01R1/20;G01R31/28;H03K19/20;H01H9/54;H03K17/687 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 邵凌明;毛国梁 | 申请（专利权）人 | 南京宏泰半导体科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 南京新众合专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 彭雄 |
| 地址 | 210000 江苏省南京市浦口区江浦街道浦滨大道320号科创广场科创总部大厦B座24楼B2411室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及了一种半导体测试系统的开关切换电路及方法，包括源表模块、控制模块、开关模块，所述源表模块用于设置电流档位与输出状态，所述控制模块根据电流档位与输出状态产生相应电平的使能信号En和控制信号Con；根据使能信号En和控制信号Con产生相应电平的控制信号一Rc1和控制信号二Rc2；开关模块用于根据控制信号一Rc1、控制信号二Rc2的电平高低，执行开关操作，使得源板能够无任何电压电流输出、允许1A以下的电流输出或者允许1A以上的电流输出。本发明不仅规避了单一类型开关的缺点，而且提升了系统测试精度、测试稳定性与开关电路的使用寿命，同时降低了使用成本。 |
