一种面向SOC芯片的多时钟域并发测试系统及其测试方法
基本信息
| 申请号 | CN202110746890.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113190394B | 公开（公告）日 | 2021-09-28 |
| 申请公布号 | CN113190394B | 申请公布日 | 2021-09-28 |
| 分类号 | G06F11/22（2006.01）I;G06F11/36（2006.01）I;G01R31/317（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 毛国梁;包智杰 | 申请（专利权）人 | 南京宏泰半导体科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 南京材智汇知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 冯昌恒 |
| 地址 | 211806江苏省南京市浦口区兰花路19号江苏可成科技产业园南园26号楼2层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种面向SOC芯片的多时钟域并发测试系统及其测试方法，属于芯片检测技术领域。本发明板卡系统包括板卡和设置在板卡上的时钟域控制器、插槽总线控制器和测试子系统，时钟域控制器连接测试子系统和插槽总线控制器，插槽总线控制器连接背板总线；测试子系统包括测试处理器和信号处理单元，测试处理器包括测试图形存储器、存储控制器、时序发生器、图形发生器和指令发生器。本发明通过多时钟域并发的测试方法，在提高了单颗SOC芯片测试效率的同时，单颗芯片的测试成本也得到降低，从而提高了利润；对芯片工作在多模块并发工作状态下的失效有更高的检测覆盖率，提高芯片封装后的良率。 |
