一种多核测试处理器及集成电路测试系统与方法
基本信息
| 申请号 | CN202111040904.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113514759A | 公开（公告）日 | 2021-10-19 |
| 申请公布号 | CN113514759A | 申请公布日 | 2021-10-19 |
| 分类号 | G01R31/317（2006.01）I;G06F11/22（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 毛国梁 | 申请（专利权）人 | 南京宏泰半导体科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 南京新众合专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 彭雄 |
| 地址 | 210000江苏省南京市浦口区兰花路19号江苏可成科技产业园南园26号楼2层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种多核测试处理器及集成电路测试系统与方法，包括协测试处理器同步控制器、主测试处理器、两个以上的协测试处理器、测试子系统指令切换器，在主测试处理器下引入若干协测试处理器。主测试处理器将需要并发测试的测试图形交给协测试处理器执行，用于完成类似异步信号匹配测试的测试项目。协测试处理器测试完成后，又回到主测试处理器继续后续测试。本发明可以实现多测试站异步并发测试，提高测试效率，同时在给每个测试站分配异步测试通道时可以避免更少的测试通道闲置，从而提高测试通道利用率。 |
