商标进度
商标申请
2010-05-11
初审公告
2011-06-27
已注册
2011-09-28
4
终止
2031-09-27
商标详情
| 商标 |
M
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| 商标名称 | MACROTEST SEMICONDUCTOR | 商标状态 | 商标已注册 |
| 申请日期 | 2010-05-11 | 申请/注册号 | 8286084 |
| 国际分类 | 09类-科学仪器 | 是否共有商标 | 否 |
| 申请人名称（中文） | 南京宏泰半导体科技股份有限公司 | 申请人名称（英文） | - |
| 申请人地址（中文） | 江苏省南京市浦口区兰花路19号江苏可成科技产业园南园26号楼2层 | 申请人地址（英文） | - |
| 商标类型 | 更正商标申请/注册事项---打印改错后的注册证 | 商标形式 | - |
| 初审公告期号 | 1269 | 初审公告日期 | 2011-06-27 |
| 注册公告期号 | 8286084 | 注册公告日期 | 2011-09-28 |
| 优先权日期 | - | 代理/办理机构 | 北京中博世达专利商标代理有限公司 |
| 国际注册日 | - | 后期指定日期 | - |
| 专用权期限 | 2021-09-28-2031-09-27 | ||
| 商标公告 | - | ||
| 商品/服务 |
物理学设备和仪器(0910)
教学仪器(0910)
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| 商标流程 |
2010-05-11
商标注册申请---申请收文
2010-05-17
商标注册申请---打印受理通知
2011-03-28
商标注册申请---打印驳回通知
2011-09-02
更正商标申请/注册事项---申请收文
2011-10-17
商标注册申请---打印注册证
2012-01-10
更正商标申请/注册事项---打印改错后的注册证 |
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