首页/ 上海仪电物理光学仪器有限公司/ 专利详情

一种新型熔点滑点仪及其校正测量方法

基本信息

申请号 CN202010393431.4 申请日 -
公开（公告）号 CN111398334A 公开（公告）日 2020-07-10
申请公布号 CN111398334A 申请公布日 2020-07-10
分类号 G01N25/04(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 史琼;陈若雷;朱中华 申请（专利权）人 上海仪电物理光学仪器有限公司
代理机构 上海九泽律师事务所 代理人 上海仪电物理光学仪器有限公司
地址 201613上海市徐汇区徐塘路88号7幢1-3层
法律状态 -

摘要

摘要 一种新型熔点滑点仪及其校正测量方法，用标准样品(对硝基甲苯(52.56℃)、偶氮苯(68.78℃)、萘(81.0℃))来校正仪器熔点(滑点)的精度，利用图像分析的优势，同时兼顾了试样熔点和动植物滑点的测试。