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一种芯片多工位测试系统

基本信息

申请号 CN201820636942.2 申请日 -
公开（公告）号 CN208780782U 公开（公告）日 2019-04-23
申请公布号 CN208780782U 申请公布日 2019-04-23
分类号 G01R31/28（2006.01）I; G01R1/04（2006.01）I; G01R1/073（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 张术利 申请（专利权）人 上海利扬创芯片测试有限公司
代理机构 东莞市华南专利商标事务所有限公司 代理人 上海利扬创芯片测试有限公司
地址 201800 上海市嘉定区永盛路2229号3幢1层、2层
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型提供了一种芯片多工位测试系统，包括依次电连接的主控装置、测试机和多工位探针卡，所述多工位探针卡用于放置被测芯片，所述测试机根据主控装置所设定的程序产生频率信号传至多工位探针卡上的被测芯片，使被测芯片处于某个频段，还设有电连接多工位探针卡的信号处理器，其用于处理来自放置在多工位探针卡上的被测芯片的数据，信号处理器接收到来自多工位探针卡的被测芯片数据后，将数据同时进行计算处理，再将得出的结果与预设的值进行比较，使多个芯片能在不同频率下同时进行测试，提高了芯片的测试效率。